Caracterizacao de materiais de interesse tecnologico utilizando-se raios x: zirconia (1994)
Source: Resumos. Conference titles: Encontro Nacional de Fisica da Materia Condensada. Unidade: IFSC
Subjects: FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA, MATÉRIA CONDENSADA (PROPRIEDADES ELÉTRICAS)
ABNT
FOSCHINI, C R et al. Caracterizacao de materiais de interesse tecnologico utilizando-se raios x: zirconia. 1994, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Fisica, 1994. . Acesso em: 09 maio 2024.APA
Foschini, C. R., Pinatti, D. P. F. S., Paullin Filho, P. I., Ferraz, M. C., Basso, H. C., & Mascarenhas, Y. P. (1994). Caracterizacao de materiais de interesse tecnologico utilizando-se raios x: zirconia. In Resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira de Fisica.NLM
Foschini CR, Pinatti DPFS, Paullin Filho PI, Ferraz MC, Basso HC, Mascarenhas YP. Caracterizacao de materiais de interesse tecnologico utilizando-se raios x: zirconia. Resumos. 1994 ;[citado 2024 maio 09 ]Vancouver
Foschini CR, Pinatti DPFS, Paullin Filho PI, Ferraz MC, Basso HC, Mascarenhas YP. Caracterizacao de materiais de interesse tecnologico utilizando-se raios x: zirconia. Resumos. 1994 ;[citado 2024 maio 09 ]